3506-10D 電容測試儀
特性
規格
精度
- 模拟测量时间 0.6ms (1MHz)的高速测量
- 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
- 1MHz 测量下,低电容的贴片时可稳定测量
- 根据 BIN 的测定区分容量
- 平均功能: 可以平均 1~256 次。
- 接触不良判别: 可以使用 Low-C,及 Chatter 功能侦测接触不良。
- 电流侦测, 量测电压侦测避免噪声干扰。
- 触发延迟功能: 可搭配客户端设备设定延迟时间。
- 补偿功能: 对于较低的容值运用开路,短路补偿可以达到更精准。
- BIN 筛选功能: 有 13 个区间可以选别。
- 比较功能: 设定上下限规格,可以用来筛选产品。
- 全距負載補償功能,提升測試效率。
- 短距電氣長度補償,增進量測精精度。
- 偏差功能範圍限制,防止人為異常設定.
規格
量測參數 | C(電容值),D(損失角) |
量測頻率 | 1 kHz/1 MHz |
量測電壓 | 0.5V/1V |
量測範圍 | C:0.000fF to 15.000μF D:0.00001 to 1.99999 Q:0.0 to 19999.9 |
等效電路 | 串聯/並聯等效電路 |
量測時間 | 代表值 1.5ms |
量測速度 | 快速/中速/慢速 |
通訊接口 | RS232/GPIB |
量測檔位 | 1MHz:12檔位,1 KHz:16檔位 |
使用環境 | 溫度:0 to 40°C,濕度:80% R.H. |
電源 | 可選擇 100,120,220 or 240 V ±10%,50/60 Hz |
尺寸 | 寬 260 W x 高 100 x 深 298 D mm |
重量 | 4.8 公斤 |
精度
頻率 | 規格 |
1 KHz | 0.12% reading |
1 MHz | 0.22pF:0.20% reading 0.47pF:0.15% reading 1pF/2.2pF/4.7pF/10pF/22pF/47pF/100pF/220pF/470pF/1nF:0.12% reading |
3504-40 電容測試器
為高速MLCC檢查的電容測量儀器與恆定的電壓
- 保證定電壓測量(1V或500mV)
- 高速測量2ms
- 3504-40可搭配測包機達到最高速及最節省成本的要求
- 99套的記憶設定量測